Component Test Scanner Model 13001

近几年来由于组件变得更加复杂与多通道等复合性问题，使测试困难与结构变得复杂，增加人为错误可能性与人力成本。Chroma 13001提供多信道扫描功能，搭配 Chroma 3302 / 3252 / 11022 / 11025 LCR 表做电感值、电容值、电阻值等量测，并包含圈数比(turn ratio) 量测 (如果LCR表有提供此功能)，也可以与Chroma 11200 电容漏电流/绝缘电阻表配合绝缘电阻测试，并有专为漏感量测的短路设计。单台可以支持8插槽模块，当搭配8个选配 A113007 的 40 Channels 扫描模块，单台可多达320通道。并提供主/从设计，客户可经由主机标准的RS-232、GPIB或USB接口控制主机本身输出的测试回路，与包含外接扩充高达8台的受控主机的部份，以满足客户更多通道数需求。

Chroma 13001支援Chroma 8800组件自动测试系统，提供多步骤的测试程序，满足多样化测试应用，如提供RJ-45设备(包含LAN 模块，Ethernet IC，PoE IC等)、玻璃基板(包含太阳能板)、LCD 玻璃基板、玻璃印刷电路(包含触控屏幕touch panel等)、PCB、电路基板、EMI Filter、充电电池测试、ICT应用等应用测试客户。可以结合 Chroma 8800组件自动测试系统提供过程控制与数据收集功能。搭配自动化可节省人力成本、减少人为疏失错误、提升数据管理质量与效率。